Un difractómetro es un instrumento diseñado para medir los ángulos y las intensidades de las ondas difractadas (normalmente rayos X, neutrones o electrones) producidas por su interacción con materiales cristalinos o policristalinos, lo que permite la determinación de estructuras atómicas y moleculares mediante el análisis de patrones de difracción.[1] Estos dispositivos funcionan según el principio de dispersión elástica y coherente de redes cristalinas, a menudo denominada difracción de Bragg, y pueden funcionar en geometrías de reflexión o transmisión para adaptarse a varios tipos de muestras, incluidos polvos, películas delgadas y cristales individuales.

Los principios fundamentales de la difractometría se remontan a principios del siglo XX, comenzando con el descubrimiento de Max von Laue en 1912 de la difracción de rayos X mediante cristales, que demostró que los rayos X se comportan como ondas electromagnéticas con longitudes de onda comparables a los espaciamientos atómicos y le valieron el Premio Nobel de Física en 1914. Este avance avanzó rápidamente gracias al desarrollo independiente de técnicas de difracción de polvo: Peter Debye y Paul Scherrer introdujeron el método en 1916 utilizando polvos cristalinos finamente molidos para producir patrones de anillos característicos en películas fotográficas, mientras que Albert Hull ideó un enfoque similar en 1917 en General Electric para analizar estructuras metálicas. Los primeros instrumentos dependían de cámaras de ionización o películas para la detección, pero las innovaciones posteriores a la Segunda Guerra Mundial, como los goniómetros automatizados y los contadores de centelleo en la década de 1950, transformaron los difractómetros en herramientas precisas y de alto rendimiento para el análisis cuantitativo.